泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

   泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及含元素的數據分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗室中常規材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。

突出特點(diǎn)

   *集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺，在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實(shí)現 SEM 成像和元素成分分析。

   TESCAN 采用*的無(wú)機械光闌設計，采用實(shí)時(shí)電子束追蹤（In Flight Beam Tracing™）的技術(shù)，可幫助用戶(hù)快速獲得電鏡的成像及分析條件。

   *的大視野光路（Wide Field Optics™）設計，低至2倍的放大倍數，無(wú)需額外的光學(xué)導航攝像頭即可輕松、實(shí)現 SEM 導航。

   SingleVac™ 模式作為標準配置，為觀(guān)測不導電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。

   采用 3D 電子束技術(shù)（3D Beam Technology ）可獲得實(shí)時(shí)立體成像。

   在樣品臺及裝置的樣品運動(dòng)過(guò)程中，Essence™ 3D防碰撞模塊可以直觀(guān)的顯示安裝腔室內的探測器及樣品臺的位置信息，提供安全性的保護。

   真空緩沖節能單元可顯著(zhù)縮短機械泵的運行時(shí)間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟效益的電子顯微鏡。

   模塊化分析平臺，可選配集成多種類(lèi)的探測器和附件（如陰極熒光探測器，水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等）。